N-SIM

В микроскопии структурированного освещения (SIM) неизвестные мелкие клеточные структуры изучаются путем анализа муарового рисунка, который получается при освещении образца структурированным излучением высокой пространственной частоты. Микроскоп структурированного освещения производства Nikon (N-SIM) реализует высокое разрешение в 115 нм в несколькихцветах. Кроме того, он может беспрерывно делать снимки с высоким пространственным разрешением и временным разрешением 0,6 с/кадр, что делает возможным изучение динамических взаимодействий в живых клетках.

Изображение живой клетки с разрешением в два раза большим по сравнению с обычным оптическим микроскопом

Модель N-SIM использует инновационный подход Nikon к технологии “микроскопии структурированного освещения”. Сочетание данной высокоэффективной технологии с известным масляным объективом CFI Apochromat TIRF 100x (NA 1,49) компании Nikon, микроскоп N-SIM практически удваивает (приблизительно до 115 нм*) пространственное разрешение обычных оптических микроскопов и обеспечивает детальную визуализацию мельчайших внутриклеточных структур и их интерактивных функций.

*Активация при помощи лазера 488 нм в режиме 3D-SIM

Временное разрешение 0,6 с/кадр — невероятно быстрый микроскоп с высоким разрешением

Модель N-SIM обеспечивает возможность очень быстрого получения изображений с помощью техник структурированного  освещения с временным разрешением до 0,6 с/кадр, что эффективно для изображений живых клеток (в режиме TIRF-SIM/2D-SIM; в режиме Slice 3D-SIM возможно получение изображений с разрешением приблизительно 1 с/кадр).

 

Разные режимы наблюдения 

Режим TIRF-SIM/2D-SIM

В этом режиме можно получать изображения 2D на высокой скорости с высоким разрешением и невероятной контрастностью. Режим TIRF-SIM использует преимущества наблюдения в режиме флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с в два раза более сильным разрешением по сравнению с обычными TIRF-микроскопами, что позволяет более детально изучать молекулярные взаимодействия на поверхности клеток.

Режим 3D-SIM

Доступны два режима работы: Slice 3D-SIM позволяет получать оптические срезы живых клеток с аксиальным разрешением 300 нм; Stack 3D-SIM позволяет получать изображения более толстых образцов с более высокой контрастностью, чем режим Slice 3D-SIM.

5-лазерный модуль, обеспечивающий многоцветность и высокое разрешение

5-лазерный модуль LU5 N-SIM – это модульная система, использующая до пяти лазеров, которая позволяет получать многоцветные изображения с высоким разрешением. Возможность обеспечения цветных изображений очень важна для исследования динамического взаимодействия многочисленных белков на молекулярном уровне.


Технические характеристики
Спецификации N-SIM
Разрешение в горизонтальной плоскости 115 нм в режиме 3D-SIM
Разрешение в вертикальной плоскости 269 нм в режиме 3D-SIM
Время получения изображений

До 0,6 с/кадр (TIRF-SIM/2D-SIM)

До 1 с/кадр (Slice 3D-SIM) (требуется еще 1-2 с. для подсчетов)

Режим получения изображений

TIRF-SIM (TIRF высокое разрешение XY)

2D-SIM (высокое разрешение XY, глубина до 3 мкм)

Slice 3D-SIM (высокое разрешение XYZ, глубина до 20 мкм)

Stack 3D-SIM (высокое разрешение XYZ, глубина до 50 мкм)

Многоцветное изображение До 5 цветов
Совместимый лазер

Стандарт: 488нм, 561нм

Опции: 405нм, 458нм, 514нм, 532нм, 640нм

Сочетание лазеров:

405 нм/488 нм/514 нм/532 нм/561 нм,

405 нм/488 нм/514 нм/561 нм/640 нм, 

458 нм/488 нм/514 нм/532 нм/561 нм,

458 нм/488 нм/514 нм/561 нм/640 нм

Совместимый микроскоп

Механический инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E

Система точной фокусировки

Механический столик XY с датчиками Пьезо-Z столик

Совместимый объектив

CFI SR Apochromat TIRF 100×, масляный (NA 1,49)

CFI Apochromat TIRF 100×, масляный (NA 1,49)

CFI SR Plan Apochromat IR 60×WI (NA 1,27)

CFI Plan Apochromat IR 60×WI (NA 1,27)

Камера Andor Technology iXon3 897 EMCCD
ПО

NIS-Elements Ar/NIS-Elements C (для конфокального микроскопа A1+/A1R+)

Оба требуют опциональных модулей аналитического ПО NIS-A N-SIM

Условия эксплуатации От 20 oC до 28 oC ( Ѓ} 0,5 oC)